華光天銳提供光纖測溫系統(tǒng)，可以在多種電子元器件中使用，比如IGBT光纖測溫、可控硅晶閘管測溫、發(fā)電機組光纖測溫，絕緣，不受電磁干擾。

晶閘管測溫裝置的必要性

電力電子變換裝置在工作過程中，晶閘管通常工作于高壓、大電流的狀態(tài)中，工作過程中功率損耗會引起晶閘管的發(fā)熱、升溫，而晶閘管溫度過高將縮短器件壽命，甚至燒毀器件。為保證元件在額定負荷范圍內(nèi)和超負荷等異常情況下都能工作在允許的最高結(jié)溫以下，需對晶閘管的溫度進行監(jiān)測，提升設備運行的可靠性。

高壓晶閘管起動器在起動高壓交流電動機時，晶閘管要承受高電壓和大電流，晶閘管由于消耗電能，電能轉(zhuǎn)化為熱能，晶閘管本身的溫度快速升高，并通過其自身的散熱器將其熱量散出。但高壓晶閘管起動器因負載原因起動時間過長或多次頻繁起動時，散熱器上由于熱量的積蓄，會達到過高的溫度，此時，晶閘管溫度也會過高，若不及時采取措施處理或控制過高的溫度，將會使晶閘管本身因過溫而損壞。

晶閘管自 1956 年誕生以來，一直朝著高電壓、大電流的方向發(fā)展，分為電觸發(fā)晶閘管 (Electrically Triggered Thyristor，ETT)、光觸發(fā)晶閘管 (Light-Triggered Thyristor LTT)，被廣泛的用于 HVDC、SVC、TCSC、TSC 等領域。晶閘管換流閥是系統(tǒng)運行的核心部件，在開通過程中，若經(jīng)受故障 ( 浪涌 ) 電流，電流上升率很大，而單晶硅擴展速度的增大并不明顯，且不均勻，因此，會在導通局部形成很高的電流密度和造成局部結(jié)溫急劇上升，最終導致晶閘管燒毀 ；在導通過程中，可存在高電流密度溫升效應和缺陷點本征激發(fā)效應，形成單晶硅自身的循環(huán)加熱，最終晶閘管燒毀 ；在關斷過程中，由于存在恢復電流和較高的電流關斷 di/dt，結(jié)溫都遠遠大于正常值，易燒毀晶閘管 ；在斷態(tài)過程中，晶閘管存在泄漏電流和 RC 保護回路的過電壓，亦同樣產(chǎn)生局部熱電的循環(huán)自加熱，將晶閘管燒毀。因此，晶閘管結(jié)溫隨外界工況變化，對換流閥串聯(lián)均壓機制、內(nèi)外部過電壓、過電流、晶閘管反向恢復過程、觸發(fā)控制系統(tǒng)、保護系統(tǒng)等各方面特性都起著決定性作用。因此，迫切需要能夠測量晶閘管內(nèi)實時溫度的測量系統(tǒng)，熒光光纖測量系統(tǒng)采用特制的光纖溫度傳感器，能夠?qū)崟r多點測量溫度分布，對晶閘管本體影響極小，不受外界的強電磁干擾，具有體積超小、可靠性高、穩(wěn)定性強、線性度好、誤差小等特點，能夠滿足各類晶閘管測溫的需求。

福州華光天銳自主研發(fā)的晶閘管熒光光纖溫度實時測量系統(tǒng)，能夠?qū)崟r多點測量溫度分布，對晶閘管本體影響極小，不受外界的強電磁干擾，光纖傳感器體積小，整個測量系統(tǒng)具有穩(wěn)定性強、可靠性高、穩(wěn)定性強、線性度好、誤差小等特點，能夠滿足各類晶閘管測溫的需求。